Атомно-силовой микроскоп и атомно-силовую микроскопию относят к методам сканирующей зондовой микроскопии. Это значит, что, мы не видим объект в привычном понимании - мы лишь его "щупаем" зондом, а потом, используя математические методы, на компьютере получаем не только картинку-топографию, но и физические свойства объекта, такие как жесткость и адгезия.